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高精度光学坐标测量仪μCMM

高精度光学坐标测量仪μCMM是奥地利Bruker Alicona公司研发生产的集样品尺寸特性,位置,形状和粗糙度测量功能于一体的全程高精度测量系统。
高精度光学坐标测量仪μCMM的突出特点:
. 极高精度测量公差非常小的部件
. μCMM是同类产品中最精确的纯光学微坐标测量系统。
. 用户将触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势结合起来,只用一个传感器测量零件的尺寸、位置、形状和粗糙度。
. μCMM提供了更高几何精度的光学三维测量,能够测量大部件上的小表面细节,并精确确定这些单独测量的相对位置。
. 可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料,如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅。
. 材料从哑光到抛光各种反光成分都可以测量。
. 操作简单是通过单按钮解决方案,有一个集自动化和人体工程学控制元素特别设计的控制器。
. 带线性驱动的空气轴承轴可实现无磨损使用和高精度、以及更快速测量。这也使得μCMM非常适合在生产中永久使用。

高精度光学坐标测量仪μCMM的部分技术参数:

高精度光学坐标测量仪μCMM拥有更优越的性能: